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X射线膜厚仪是一款专为高精度、多功能薄膜测量设计的先进设备,结合了X射线荧光(XRF)技术和创新算法,适用于半导体、光学涂层、新能源材料等领域的研发与质量控制。以下是对X射线膜厚仪六大优势的详细阐述:1.下照式设计这种独*的下照式设计理念,充分考虑到了实际操作中的便捷性与高效性。在进行样品定位和对焦时,它能够让用户快速且方便地完成相关操作。无论是形状规则还是较为复杂的样品,都能在这种设计的辅助下,...
2019-11-25
2019-10-28
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